TPD3S716-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S716-Q1EVM
TPD3S716-Q1EVM

Nsx:

Mô tả:
Power Management IC Development Tools TPD3S716-Q1EVM

Có hàng: 2

Tồn kho:
2 Có thể Giao hàng Ngay
Thời gian sản xuất của nhà máy:
12 Tuần Thời gian sản xuất tại nhà máy dự kiến để có số lượng lớn hơn mức hiển thị.
Tối thiểu: 1   Nhiều: 1   Tối đa: 5
Đơn giá:
$-.--
Thành tiền:
$-.--
Dự kiến Thuế quan:

Giá (USD)

Số lượng Đơn giá
Thành tiền
$90.01 $90.01

Đặc tính Sản phẩm Thuộc tính giá trị Chọn thuộc tính
Texas Instruments
Danh mục Sản phẩm: Công cụ phát triển IC quản lý nguồn
RoHS: N
Evaluation Modules
Power Switch
3.3 V, 5 V
TPD3S716-Q1
TPD3S716
Nhãn hiệu: Texas Instruments
Quốc gia Hội nghị: Not Available
Quốc gia phân phối: Not Available
Quốc gia xuất xứ: US
Loại giao diện: USB
Nhiệt độ làm việc tối đa: + 125 C
Nhiệt độ làm việc tối thiểu: - 40 C
Loại sản phẩm: Power Management IC Development Tools
Tiêu chuẩn: AEC-Q100
Số lượng Kiện Gốc: 1
Danh mục phụ: Development Tools
Đã tìm thấy các sản phẩm:
Để hiển thị sản phẩm tương tự, hãy chọn ít nhất một ô
Chọn ít nhất một hộp kiểm ở trên để hiển thị các sản phẩm tương tự trong danh mục này.
Các thuộc tính đã chọn: 0

CNHTS:
8473309000
USHTS:
8473301180
TARIC:
8473302000
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99

TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed to help evaluate the TPD3S716-Q1. The TPD3S716-Q1 is a USB 2.0 interface protection with adjustable current limit and short-to-battery protection. Each evaluation module contains four TPD3S716-Q1 devices. One TPD3S716-Q1 (U1) is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 and USB2) for capturing system-level tests. One TPD3S716-Q1 (U2) is configured with four SMA (S1–S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. One TPD3S716-Q1 (U3) is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. One Texas Instruments TPD3S716-Q1 (U4) is pinned out for device-level tests.