EVAL1ED44173N01BTOBO1

Infineon Technologies
726-EVAL1ED44173N01B
EVAL1ED44173N01BTOBO1

Nsx:

Mô tả:
Power Management IC Development Tools Adapter board for 1ED44173N01B low-side gate driver

Có hàng: 1

Tồn kho:
1 Có thể Giao hàng Ngay
Tối thiểu: 1   Nhiều: 1
Đơn giá:
$-.--
Thành tiền:
$-.--
Dự kiến Thuế quan:

Giá (USD)

Số lượng Đơn giá
Thành tiền
$29.29 $29.29

Đặc tính Sản phẩm Thuộc tính giá trị Chọn thuộc tính
Infineon
Danh mục Sản phẩm: Công cụ phát triển IC quản lý nguồn
RoHS: N
Evaluation Boards
Gate Driver
25 V
1ED44173N01B
Nhãn hiệu: Infineon Technologies
Để sử dụng với: Gate Drivers
Đóng gói: Bulk
Loại sản phẩm: Power Management IC Development Tools
Số lượng Kiện Gốc: 1
Danh mục phụ: Development Tools
Mã Bí danh: EVAL-1ED44173N01B SP005427168
Đã tìm thấy các sản phẩm:
Để hiển thị sản phẩm tương tự, hãy chọn ít nhất một ô
Chọn ít nhất một hộp kiểm ở trên để hiển thị các sản phẩm tương tự trong danh mục này.
Các thuộc tính đã chọn: 0

CAHTS:
8543700000
USHTS:
8543709860
JPHTS:
854370000
TARIC:
8473302000
ECCN:
EAR99

Development Tools

Infineon Development Tools offer a wide selection to enable the engineer's unique design, regardless of the target application. These range from LED lighting, power management, sensors, analog & digital ICs, communication, optoelectronic, and embedded development tools.

EVAL-1ED44173N01B Adapter Board

Infineon Technologies EVAL-1ED44173N01B Adapter Board is a compact target board designed to enable evaluation of the 1ED44173N01B Single-Channel Low-Side MOSFET Gate Driver inside a switched-mode application. The 1ED44173N01B MOSFET Low-Side Driver is pin-to-pin compatible with the 1ED44175N01B Low-Side IGBTDriver. The Adapter Board includes a footprint that can support either the 1ED44173N01B or 1ED44175N01B SOT-236 low-side drivers with OCP and enable/fault output, TO-247 footprint of gate and emitter for IGBT, or gate and source for MOSFETs and other SMD components. The EVAL-1ED44173N01B Adapter Board can be easily connected to an existing switched-mode power circuit for fast in-circuit evaluation.