LM74721EVM

Texas Instruments
595-LM74721EVM
LM74721EVM

Nsx:

Mô tả:
Power Management IC Development Tools LM74721-Q1 evaluatio n module for ideal

Có hàng: 2

Tồn kho:
2 Có thể Giao hàng Ngay
Thời gian sản xuất của nhà máy:
12 Tuần Thời gian sản xuất tại nhà máy dự kiến để có số lượng lớn hơn mức hiển thị.
Tối thiểu: 1   Nhiều: 1   Tối đa: 5
Đơn giá:
$-.--
Thành tiền:
$-.--
Dự kiến Thuế quan:

Giá (USD)

Số lượng Đơn giá
Thành tiền
$118.81 $118.81

Đặc tính Sản phẩm Thuộc tính giá trị Chọn thuộc tính
Texas Instruments
Danh mục Sản phẩm: Công cụ phát triển IC quản lý nguồn
RoHS:  
Evaluation Modules
Ideal Diode
3 V to 40 V
LM74721-Q1
LM74721
Nhãn hiệu: Texas Instruments
Để sử dụng với: Ideal Diode Controller Drives and Controls
Dòng đầu ra: 5 A
Loại sản phẩm: Power Management IC Development Tools
Số lượng Kiện Gốc: 1
Danh mục phụ: Development Tools
Đã tìm thấy các sản phẩm:
Để hiển thị sản phẩm tương tự, hãy chọn ít nhất một ô
Chọn ít nhất một hộp kiểm ở trên để hiển thị các sản phẩm tương tự trong danh mục này.
Các thuộc tính đã chọn: 0

USHTS:
9030890100
KRHTS:
9030890000
TARIC:
9030890000
ECCN:
EAR99

LM74721EVM Controller Evaluation Module

Texas Instruments LM74721EVM Controller Evaluation Module (EVM) helps designers evaluate the operation and performance of the LM74721-Q1 ideal diode controller in reverse battery protection applications. This evaluation module demonstrates how LM74721-Q1 controls two N-channel power MOSFETs with an ideal diode MOSFET connected first, followed by a second MOSFET for switched output and power path cut off. The Texas Instruments LM74721-Q1 can withstand and protect the loads from negative supply voltages down to –33V DC. An integrated ideal diode controller (GATE) drives the first MOSFET to replace a Schottky diode for reverse input protection and output voltage holdup. Integrated VDS clamp feature enables input TVS fewer system designs for automotive ISO7637 pulse suppression. A strong boost regulator with fast turn ON/OFF comparators ensures robust and efficient MOSFET switching performance during automotive testing, such as ISO16750 or LV124, where an ECU is subjected to input short interruptions, and AC superimpose input signals.